MISC

2006年11月

中性子及び放射光による残留応力測定とその相補利用

ふぇらむ
  • 鈴木 裕士
  • ,
  • 菖蒲 敬久

11
11
開始ページ
701
終了ページ
708
記述言語
日本語
掲載種別

本稿では、中性子回折法と高エネルギー放射光X線を利用した応力測定技術について、それらの基本原理や測定技術、さらにはそれらの応用例について紹介するとともに、これらの応力測定技術を相補的に利用することの重要性について述べた。

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/10018426534
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10528571
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5005295
ID情報
  • ISSN : 1341-688X
  • CiNii Articles ID : 10018426534
  • CiNii Books ID : AN10528571

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