2006年11月
中性子及び放射光による残留応力測定とその相補利用
ふぇらむ
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- 巻
- 11
- 号
- 11
- 開始ページ
- 701
- 終了ページ
- 708
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
本稿では、中性子回折法と高エネルギー放射光X線を利用した応力測定技術について、それらの基本原理や測定技術、さらにはそれらの応用例について紹介するとともに、これらの応力測定技術を相補的に利用することの重要性について述べた。
- リンク情報
- ID情報
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- ISSN : 1341-688X
- CiNii Articles ID : 10018426534
- CiNii Books ID : AN10528571