論文

査読有り
2015年7月

電着法により創製したニッケルナノ結晶薄膜の微視構造のX線評価

材料
  • 田中 啓介*
  • ,
  • 小池 裕基*
  • ,
  • 佐野 勝基*
  • ,
  • 田中 浩人*
  • ,
  • 町屋 修太郎*
  • ,
  • 菖蒲 敬久
  • ,
  • 來海 博央*

64
7
開始ページ
528
終了ページ
535
記述言語
日本語
掲載種別
DOI
10.2472/jsms.64.528
出版者・発行元
The Society of Materials Science, Japan

スルファミン酸ニッケル浴を用いて種々の電着条件でナノ結晶ニッケルを創製し、その結晶粒径分布を、放射光を利用したX線法と透過電子顕微鏡法で計測した。その結果、(1)111-222回折ペアよりフーリエ解析で求めた粒径は、200配向膜においては、200-400ペアより求めた値より小さく、ランダム配向膜で大きくなる、(2)TEMより求めた粒径分布は対数正規分布に従い、粒径分布の分散は粒径が小さいほうが小さい、(3)111-222ペアより求めた粒径が30nm程度以下の領域では、TEMによる分布とほぼ一致する、(4)111回折を用いてシェラー法により簡便評価した粒径は111-222ペアを用いたフーリエ解析による結果に近く、粒径40nm程度以下ではTEMによる平均結晶粒径とほぼ一致する、等を明らかにした。

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.2472/jsms.64.528
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/130005087884
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN00096175
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5054547
ID情報
  • DOI : 10.2472/jsms.64.528
  • ISSN : 0514-5163
  • CiNii Articles ID : 130005087884
  • CiNii Books ID : AN00096175

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