2020年4月
X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法,2; 放射光を用いたラインプロファイル解析
材料
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- 巻
- 69
- 号
- 4
- 開始ページ
- 343
- 終了ページ
- 347
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- DOI
- 10.2472/jsms.69.343
金属材料の疲労評価において転位密度は非常に重要な物理量である。一般的に転位密度は走査型電子顕微鏡で評価されているが、最近、X線回折のプロファイルの幅から転位密度を導出する方法が提案されている。本研究では当該技術を放射光に適用したので報告する。オーステナイト系ステンレス鋼SUS316Lを引張ながら2次元検出器により5つの回折プロファイルを取得し、ラインプロファイル解析を実施した。その結果、転位密度は塑性変形後急激に増加し、その値は走査型電子顕微鏡で別途測定した結果とかなり良い一致を示した。今後、局所からの転位密度をその場計測し、ラインプロファイル解析が疲労破壊の機構解明に貢献するものと期待している。
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- ID情報
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- DOI : 10.2472/jsms.69.343
- ISSN : 0514-5163