論文

2016年

KUR低速陽電子ビームパルス化装置の性能試験

日本物理学会講演概要集
  • 薮内 敦
  • ,
  • 木野村 淳
  • ,
  • 葛谷 佳広
  • ,
  • Xu Q.
  • ,
  • 大島 永康
  • ,
  • O'Rourke B.E.

71
開始ページ
2531
終了ページ
2531
記述言語
日本語
掲載種別
DOI
10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2531
出版者・発行元
一般社団法人 日本物理学会

<p>陽電子寿命測定を可能にするためKUR低速陽電子ビームラインに設置されたビームパルス化装置の性能を電子ビームを用いて評価した。講演ではパルス化のシミュレーション結果との比較も紹介する予定である。</p>

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2531
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/130006245259
ID情報
  • DOI : 10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2531
  • CiNii Articles ID : 130006245259

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