本研究では光照射によって金属状態と絶縁体状態を行き来する"光スイッチング効果"を示すMn酸化物薄膜の光照射に伴う構造変化の観測などを目標として,放射光X線を用いた回折実験を行った。光スイッチングを起こす膜に類似した金属の膜,絶縁体の膜の構造の違いを明らかにすることは成功したが,試料が不安定で光スイッチング効果を示す膜の測定では信頼できる測定ができなかった。一方,薄膜などの構造観測の技術では飛躍的な発展に成功した。