2007年8月
放射光X線吸収分光を利用したセリウム酸化物における高速重イオン照射効果の研究
14th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI-14)
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- 記述言語
- 英語
- 会議種別
200MeV Xeイオンを照射したCeO$_{2}$における照射損傷を広域X線吸収微細構造(EXAFS)測定及びX線光電子分光(XPS)測定により評価した。その結果、照射後にCeの周りの酸素欠損が生じていること,Ceの価数が+4から+3に変化していることが明らかになった。