2018年11月19日 シリコンナノワイヤ電気伝導特性計測を目指したTEM‐STMホルダーの開発 日本表面真空学会学術講演会講演要旨集 黒田雄貴, 大島義文 巻 2018 号 開始ページ 86 終了ページ 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201902288616876364URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201902288616876364 ID情報 J-Global ID : 201902288616876364 エクスポート BibTeX RIS