査読有り 2021年8月 Estimating Stresses Generated in Silicon Wafer from Measured Deflection Distribution Advanced Experimental Mechanics Naoya TOYAMA, Yuelin ZHANG, Satoru YONEYAMA, Satoshi KUWABARA, Hidetomo TAKANO 巻 6 号 開始ページ 33 終了ページ 38 記述言語 英語 掲載種別 研究論文(学術雑誌) エクスポート BibTeX RIS