伊野裕司 (Yuji Ino) - マイポータル

基本情報

所属: 国立研究開発法人産業技術総合研究所

学位: 博士（工学）(2013年3月慶應義塾大学)

J-GLOBAL ID: 202101020941187905
researchmap会員ID: R000026756

経歴

2017年10月 - 現在

国立研究開発法人産業技術総合研究所, 福島再生可能エネルギー研究所, ポスドク
2013年4月 - 2017年9月

静岡理工科大学, 総合技術研究所, 研究員

学歴

2008年4月 - 2013年3月

慶應義塾大学, 理工学研究科, 総合デザイン工学専攻後期博士課程
2006年4月 - 2008年3月

慶應義塾大学, 理工学研究科, 総合デザイン工学専攻修士課程
2001年4月 - 2006年3月

慶應義塾大学, 理工学部, 電子工学科

受賞

2016年3月

Poster Award, 多結晶Si太陽電池評価のための顕微メスバウア分光装置の開発, 応用物理学会

伊野裕司, 副島啓義, 早川一生, 行平憲一, 藤田浩享, 渡辺富夫, 森口幸一, 小粥啓子, 原田芳仁, 吉田豊

論文

Investigation of Degradation Mode Spreading Interconnectors by Pressure-Cooker Testing of Photovoltaic Cells

Yuji Ino, Shuichi Asao, Katsuhiko Shirasawa, Hidetaka Takato

IEEE Journal of Photovoltaics 10(1) 188-196 2020年1月査読有り筆頭著者
Mössbauer spectroscopic microscope study on diffusion and segregation of Fe impurities in mc-Si wafer

Yutaka Yoshida, Tomio Watanabe, Yuji Ino, Masashi Kobayashi, Isao Takahashi, Noritaka Usami

Hyperfine Interactions 240(1) 2019年12月
Effect of soldering on the module degradation along bus bar in DH test and PCT for crystalline Si PV modules

Yuji Ino, Shuichi Asao, Katsuhiko Shirasawa, Hidetaka Takato

2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC) 2018年6月筆頭著者
A new set-up of Mössbauer Spectroscopic Microscope to study the correlation between Fe impurities and lattice defects in Si crystals

Yuji Ino, Tomio Watanabe, Kazuo Hayakawa, Kenichi Yukihira, Kazuaki Matsumuro, Hirotaka Fujita, Keiko Ogai, Koichi Moriguchi, Yoshihito Harada, Hiroyoshi Soejima …

Journal of Crystal Growth 468 489-492 2017年6月査読有り筆頭著者
Feasibility study to investigate diffusion of Fe in Si using a Mössbauer spectroscopic microscope

Y. Yoshida, Y. Ino, K. Matsumuro, T. Watanabe, H. Fujita, K. Hayakawa, K. Yukihira, K. Ogai, K. Moriguchi, Y. Harada …

Hyperfine Interactions 237(1) 2016年12月
3D-Mössbauer spectroscopic microscope for mc-Si solar cell evaluation

Y. Ino, H. Soejima, K. Hayakawa, K. Yukihira, K. Tanaka, H. Fujita, T. Watanabe, K. Ogai, K. Moriguchi, Y. Harada …

Hyperfine Interactions 237(1) 2016年12月査読有り筆頭著者
Mössbauer Spectroscopy on Fe Impurities in Si Materials

Yutaka Yoshida, Yuji Ino, Kiyotaka Tanaka

Solid State Phenomena 242 211-217 2015年10月
Direct Observations of Fe Impurities in Si with Different Fermi Levels by Mössbauer Spectroscopy

Yuji Ino, Kiyotaka Tanaka, Kazumasa Sakata, Yutaka Yoshida

Solid State Phenomena 242 205-210 2015年10月筆頭著者
Characteristics of Ohmic Contacts to n-Type Boron Phosphide

Ino Yuji, Nishimura Suzuka, Hirai Muneyuki, Matsumoto Satoru, Terashima Kazutaka

Jpn J Appl Phys 52(3R) 031201-031201 2013年3月1日査読有り筆頭著者
Effect of Si Doping on the Crystal Structure of HVPE Grown Boron Phosphide

Yuji Ino, Satoru Matsumoto, Suzuka Nishimura, Kazutaka Terashima

Materials Science Forum 725 285-288 2012年7月査読有り筆頭著者
Fabrication and characteristics of ZnO thin films deposited by RF sputtering on plastic substrates for flexible display

DeDong Han, Yi Wang, ShengDong Zhang, Lei Sun, RuQi Han, Satoru Matsumoto, Yuji Ino

Science China Information Sciences 55(6) 1441-1445 2012年6月
Influence of sputtering power on properties of ZnO thin films fabricated by RF sputtering in room temperature

DeDong Han, Yi Wang, ShengDong Zhang, Lei Sun, RuQi Han, Satoru Matsumoto, Yuji Ino

Science China Information Sciences 55(4) 951-955 2012年4月

講演・口頭発表等

GaドープCzシリコンPERCセルに対する光劣化の調査

伊野裕司, 入江祐太, 平藤駿介, 伊藤憲和, 新楽浩一郎, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第69回応用物理学会春季学術講演会 2022年3月26日
Sequential LeTID test to separate the two types of degradations in Si PERC solar cells

Y. Ino, Yuta Irie, Shunsuke Heito, Norikazu Itou, Kouichirou Niira, Katsuhiko Shirasawa, Hidetaka Takato

The 31st edition of the International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-31) 2021年12月14日
プレッシャークッカー試験によるダブルガラス構造を有する結晶シリコンPVミニモジュールの劣化評価(II)

伊野裕司, 安藤俊介, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第82回応用物理学会秋季学術講演会 2021年9月10日
BドープモノライクSi PERCセルに対するLeTIDの調査

伊野裕司, 入江祐太, 平藤駿介, 伊藤憲和, 新楽浩一郎, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第68回応用物理学会春季学術講演会 2021年3月17日
Investigation of discolored electrodes of crystalline silicon PV mini-module degraded by high temperature and humidity stress test

Yuji Ino, Shuichi Asao, Katsuhiko Shirasawa, Hidetaka Takato

38th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC) 2020年9月7日
PCT試験により劣化した結晶シリコンPVミニモジュールの電極変色部のTOF-SIMS分析

伊野裕司, 浅尾秀一, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第67回応用物理学会春季学術講演会 2020年3月15日
Lifetime Prediction of Crystalline Si PV Modules under UV-Hygrothermal Stress

Y. Ino, T. Sakamoto, K. Niira, T. Kurose, S. Uchida, S. Yada, S. Inoue, K. Fujiwara, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

4th International Workshop on the Sustainable Actions for “Year by Year Aging” under Reliability Investigations in Photovoltaic Modules, 2019 (SAYURI-PV 2019) 2019年11月19日
Investigation of degradation in crystalline silicon PV mini-module with glass-glass structure by pressure cooker test

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

The 29th edition of the International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-29) 2019年11月7日
Lifetime Prediction of Crystalline Si PV Modules under UV-Hygrothermal Stress

Y. Ino, T. Sakamoto, K. Niira, T. Kurose, S. Uchida, S. Yada, S. Inoue, K. Fujiwara, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

The 29th edition of the International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-29) 2019年11月6日
プレッシャークッカー試験によるダブルガラス構造を有する結晶シリコンPVミニモジュールの劣化評価

伊野裕司, 浅尾秀一, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第80回応用物理学会秋季学術講演会 2019年9月21日
導電性フィルムタブ付による結晶シリコンPVモジュールのPCTインターコネクタ沿い劣化の抑制

伊野裕司, 浅尾秀一, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第66回応用物理学会春季学術講演会 2019年3月10日
Comparison of glass/glass and glass/backsheet mini-modules by accelerated test

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

NREL PV Reliability Workshop 2019 2019年2月19日
The influence of module structure on degradation modes of silicon photovoltaic modules by dynamic mechanical loading test

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

3rd International Workshop on the Sustainable Actions for “Year by Year Aging” under Reliability Investigations in Photovoltaic Modules, 2018 (SAYURI-PV 2018) 2018年10月31日
The influence of module structure on degradation modes of multi-crystalline silicon photovoltaic modules by dynamic mechanical loading test

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

35th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2018) 2018年9月24日
結晶シリコンPVモジュールの高温高湿試験による劣化におけるインターコネクタのタブ付け条件の影響

伊野裕司, 浅尾秀一, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第79回応用物理学会秋季学術講演会 2018年9月21日
DEGRADATION RELATED TO THE INTERCONNECTOR FOR CRYSTALLINE SILICON PV MODULES BY ACCELERATION TESTS

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

Grand Renewable Energy 2018 (GRE2018) 2018年6月20日
Effect of soldering on the module degradation along bus bar in DH test and PCT for crystalline Si PV modules

Y. Ino, S. Asao, K. Shirasawa, H. Takato

The 7th edition of the World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC-7) 2018年6月14日
プレッシャークッカー試験・動的機械荷重試験での結晶Si太陽電池モジュールの劣化モード解析

伊野裕司, 浅尾秀一, 白澤勝彦, 高遠秀尚

第65回応用物理学会春季学術講演会 2018年3月18日
Iron Contamination near Surface of mc-Silicon Solar Cells Observed by Mössbauer Spectroscopic Microscope

Y. Ino, K. Hayakawa, K. Yukihira, K. Moriguchi, H. Soejima, K. Ogai, Y. Harada, K. Shirasawa, H. Takato, Y. Yoshida

The 27th edition of the International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-27) 2017年11月17日
顕微メスバウア分光によるmc-Si太陽電池の表面鉄汚染観察

伊野裕司, 早川一生, 行平憲一, 森口幸一, 副島啓義, 小粥啓子, 原田芳仁, 白澤勝彦, 高遠秀尚, 吉田豊

第78回応用物理学会秋季学術講演会 2017年9月5日

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所属学協会

2006年6月 - 現在

応用物理学会

産業財産権

特許第6837649号情報処理装置、制御方法、及びプログラム

新楽浩一郎, 内田眞輔, 黒瀬卓也, 矢田伸二, 藤原京介, 高遠秀尚, 白澤勝彦, 伊野裕司
特許第6741250号不純物評価方法及び不純物評価プログラム

吉田豊, 伊野裕司, 副島啓義, 早川一生, 行平憲一, 木村啓子