講演・口頭発表等

国際会議
2019年9月

Three-dimensional shape measurement of an ellipsoidal mirror by industrial x-ray computed tomography

SPIE Optical Engineering + Applications
  • Satsuki Shimizu
    • ,
  • Yoko Takeo
    • ,
  • Gota Yamaguchi
    • ,
  • Yutaka Ohtake
    • ,
  • Yukie Nagai
    • ,
  • Hidekazu Mimura
記述言語
英語
会議種別
口頭発表（一般）
主催者
SPIE
開催地
San Diego, California, United States
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