講演・口頭発表等

招待有り
2019年9月13日

【招待講演】3次元スキャンを有効活用するためのデータ処理解説

測定計測展2019 特別セミナー 複雑形状の計測と評価 ― 21世紀のものづくりを支える多数点群による形状計測 ―
  • 長井超慧

記述言語
日本語
会議種別
公開講演,セミナー,チュートリアル,講習,講義等
主催者
日本光学測定機工業会,日本精密測定機器工業会
開催地
東京ビッグサイト,東京