論文

査読有り筆頭著者責任著者

2020年3月2日

A Simplified Cluster Analysis of Electron Track Structure for Estimating Complex DNA Damage Yields

Yusuke Matsuya
Toshiaki Nakano
Takeshi Kai
Naoya Shikazono
Ken Akamatsu
Yuji Yoshii
Tatsuhiko Sato

巻: 21
号: 5
開始ページ: 1701
終了ページ: 1701
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.3390/ijms21051701

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.3390/ijms21051701
Web of Science: https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000524908500152&DestApp=WOS_CPL
URL: https://www.mdpi.com/1422-0067/21/5/1701/pdf

ID情報

DOI : 10.3390/ijms21051701
eISSN : 1422-0067
Web of Science ID : WOS:000524908500152

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