産業財産権

特許権

異常診断装置、異常診断方法及び異常診断プログラム

株式会社東芝, 東芝インフラシステムズ株式会社
  • 田丸 慎悟
  • ,
  • 村井 雅彦
  • ,
  • 飯野 穣
  • ,
  • 藤川 勉

出願番号
特願2016-143497
出願日
2016年7月21日
公開番号
特開2018-013980
公開日
2018年1月25日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201803011418884590
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201803011418884590
ID情報
  • J-Global ID : 201803011418884590