招待有り 2021年6月16日 低温FIB法とアトムプローブ・STEM複合法による半導体粒界の構造・組成精密評価 日本顕微鏡学会第77回学術講演会 大野裕 開催年月日 2021年6月14日 - 2021年6月16日 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表（招待・特別）
