2020年 J-PARC muon g-2/EDM実験:崩壊陽電子飛跡再構成アルゴリズムを用いた測定精度の見積り 日本物理学会講演概要集(CD-ROM) 山中隆志, 佐藤優太郎, 須江祐貴, 末原大幹, 三部勉, 吉岡瑞樹, LEE Soohyung, LEE Woodo, DA SILVA Wilfrid 巻 75 号 1 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=202002254605005278 ID情報 ISSN : 2189-079XJ-Global ID : 202002254605005278 エクスポート BibTeX RIS