2004年9月1日 テラヘルツ領域の散乱強度と分光情報を用いた試薬の非破壊検査 応用物理学会学術講演会講演予稿集 山下雅弘, 渋谷孝幸, 小川雄一, 井上博之, 金森達之, 大谷知行, 川瀬晃道 巻 65th 号 3 開始ページ 897 終了ページ 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200902267381160937URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/200902267381160937 ID情報 J-Global ID : 200902267381160937 エクスポート BibTeX RIS