2008年 Local analysis of BaTiO3/SrTiO3 interfaces by STEM-EELS Proc. 14th European Microscopy Congress 2008, Aachen 開始ページ 403 終了ページ 記述言語 英語 掲載種別 研究発表ペーパー・要旨(国際会議) エクスポート BibTeX RIS