産業財産権

特許権

放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム

  • 寺本 篤司
  • ,
  • 村田 恒隆
  • ,
  • 野崎 美紀也
  • ,
  • 町本 洋一

出願番号
特願2007-225931
出願日
2007年8月31日
公開番号
特開2008-096425
公開日
2008年4月24日
特許番号/登録番号
特許第4988482号
登録日
発行日
2012年5月11日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201303095986968236
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201303095986968236
ID情報
  • J-Global ID : 201303095986968236