産業財産権

特許権

表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法

  • 伊藤 昭芳
    • ,
  • 松井 洋一
    • ,
  • 安味 憲一
    • ,
  • 明石 卓也
    • ,
  • 張 精
    • ,
  • 菊田 真基
    • ,
  • 張 潮
出願番号
特願2019-10687
出願日
2019年1月24日
公開番号
特開2020-118572
公開日
2020年8月6日
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