JRR-3において新しい中性子反射率計SUIRENの開発,建設を行い、平成18年度より施設共用を開始した。SUIRENは、波長3.8$\AA$の単色中性子を利用した、試料垂直配置の反射率計である。測定対象としては、形態として固体試料のほか固液界面試料が、膜構造としてはソフトマテリアル薄膜,磁性人工格子,中性子ミラーなどをはじめ、多様な試料が考えられる。ビーム強度は、角度分散$\Delta\theta$=0.08degにコリメートしたあと、試料位置で2.1$\times$10$^4$$\sim$2.6$\times$10$^4$カウント/s/cm$^2$程度である。また、バックグラウンドは4.5$\times$10$^{-3}$カウント/sであった。テスト測定の例として、3インチ$\phi$のシリコン基板の反射率測定では、約27時間かけて10$^{-6}$までの反射率が測定できることを実証した。また、偏極反射率測定モードについても実用化に向け、すでにテスト測定をはじめている。本報告では、この中性子反射率計SUIRENの開発について概説する。