産業財産権

特許権

ガンマ線照射試験装置

森谷 洋一郎
  • 青嶋 厚
  • ,
  • 小坂 哲生
  • ,
  • 藤原 孝治
  • ,
  • 森谷 洋一郎
  • ,
  • not registered

出願番号
2006-258216
出願日
2006年9月25日
公開番号
2008-076318
公開日
2008年4月3日
特許番号/登録番号
4576567
登録日
発行日