JMTRホットラボでは、最先端研究基盤事業において複合型微細組織解析装置を整備した。この装置は、透過電子顕微鏡(TEM), 集束イオンビーム加工装置(FIB)及びエックス線光電子分光装置(XPS)からなる。これらの装置は、ナノレベルでの観察、分析が可能であり、照射損傷メカニズムの解明につながるデータを提供することができる。