MISC

2013年9月

Development and Applications of a New Soft X-ray Emission Spectrometer for Electron Probe Microanalysis and/or Nanoanalysis

JAEA-Conf
  • H. Takahashi
  • N. Handa
  • T. Murano
  • M. Koike
  • T. Kawachi
  • T. Imazono
  • N. Hasegawa
  • M. Terauchi
  • M. Koeda
  • T. Nagano
  • H. Sasai
  • Y. Oue
  • Z. Yonezawa
  • S. Kuramoto
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巻
号
2013-001
開始ページ
13
終了ページ
15
記述言語
英語
掲載種別
記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）
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