産業財産権

特許権

テラヘルツ光を用いた紙葉類の検査方法および検査装置

  • 井上 卓
  • ,
  • 中島 透
  • ,
  • 萩行 正憲
  • ,
  • 谷 正彦
  • ,
  • 北原 英明
  • ,
  • 渋谷 享司

出願番号
特願2008-155715
出願日
2008年6月13日
公開番号
特開2009-300279
公開日
2009年12月24日
特許番号/登録番号
特許第5360741号
登録日
発行日
2013年9月13日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201403081048973413
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201403081048973413
ID情報
  • J-Global ID : 201403081048973413