国際会議 2015年12月3日 Shop Area Visit Ratio, Stay Time, and Sales Outcomes: In-depth Analysis Based on RFID Data 2nd Asia-Pacific World Congress on Computer Science and Engineering Zhen Li, Ken Ishibashi, Keiji Takai, Katsutoshi Yada 記述言語 英語 会議種別 口頭発表(一般)