講演・口頭発表等

国際会議
2015年12月3日

Shop Area Visit Ratio, Stay Time, and Sales Outcomes: In-depth Analysis Based on RFID Data

2nd Asia-Pacific World Congress on Computer Science and Engineering
  • Zhen Li
  • ,
  • Ken Ishibashi
  • ,
  • Keiji Takai
  • ,
  • Katsutoshi Yada

記述言語
英語
会議種別
口頭発表(一般)