論文

査読有り
2019年1月

Single-Electron Tunneling Effects in Electromigrated Coulomb Island between Au Nanogaps

Conference Proceedings, 2018 13th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC)
  • S. Tani
  • ,
  • M. Ito
  • ,
  • M. Yagi
  • ,
  • M. Shimada
  • ,
  • K. Sakai
  • ,
  • K. Minami
  • ,
  • J. Shirakashi

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INSPEC Accession Number: 18401781
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DOI
10.1109/NMDC.2018.8605822

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https://doi.org/10.1109/NMDC.2018.8605822
URL
https://ieeexplore.ieee.org/document/8605822
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  • DOI : 10.1109/NMDC.2018.8605822

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