特許権 診断支援装置及びその制御方法 キヤノン株式会社 久保 武, 八上 全弘, 藤本 晃司, 川岸 将実, 佐藤 清秀, 飯塚 義夫 出願番号 特願2016-197544 出願日 2016年10月5日 公開番号 特開2017-074363 公開日 2017年4月20日 特許番号/登録番号 特許第6220435号 登録日 発行日 2017年10月6日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201703004964465944URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201703004964465944 ID情報 J-Global ID : 201703004964465944
