VLSI に要求される信頼性はアプリケーションと動作環境に依存するため、VLSI 設計者には信頼性を考慮した設計が求められる。そこで本稿では、柔軟な信頼'性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャを提案する。提案アーキテクチャは、4 つのセルを持つクラスタをその基本要素とし、4 つの動作モード (TMR，DMR，SMS，SMM）によって異なる冗長構成と信頼性を実現する。TMR モードは最も高い信頼性を実現する構成であり、3 重化した演算回路の出力をクラスタ内で多数決をとり、エラーの蓄積や伝搬を防ぐ。これにより、クラスタ内で起こったソフトエラーは、ロールバック操作をすることなく修復できる。各動作モードについて、ソフトエラーによる故障率を評価した結果、提案アーキテクチャで 4 段階の異なる信頼性を実現できることを示した。また、柔軟な信頼性を実現するための付加回路による面積オーバヘッドは 30.5% となった。Acceptable soft error rate on a VLSI chip varies depending on applications and operating environment so that recent VLSI designers concern reliability specification. In this paper, we propose a novel coarse-grained dynamically reconfigurable architecture, which offers flexible reliability. Introducing a notion of cluster cell, which comprises four execution modules, as a basic element of the proposed architecture, four operation modes (TMR, DMR, SMS, and SMM) can be realized with different redundancy and reliability levels. In the TMR operation mode, which attains the highest reliability level, outputs of three execution modules are voted inside of a cluster cell, making it possible to perform an error recovery without any rollback operations. Evaluation of soft error rates demonstrates that four different reliability levels can be achieved by the proposed architecture. The area of additional circuits to provide flexible reliability accounts for 30.5% of the proposed coarse-grained reconfigurable device.