2002年
Wave-induced liquefaction and changes in void ratio profile with depth
Proc. Int. Couf. Phyeical Modelling in Geotechmics, St. John's
- 巻
- 259-264
- 号
関口 秀雄
セキグチ ヒデオ (Hideo Sekiguchi)
更新日: 02/14