MISC

査読有り
2009年10月

Novel electrical failure analysis tools for LSI chips: non-bias and non-signal-application

  • K. Nikawa
  • M. Yamashita
  • C. Otani
  • M. Tonouchi
  • H. Murakami
  • S. Kim
  • K. Nakamae
  • K. Miura
  • Y.Midoh
  • T. Matsumoto
  • Y. Aoki
  • T. Nagaishi
  • S. Inoue
  • T. Sakai
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記述言語
英語
掲載種別
エクスポート
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