講演・口頭発表等

招待有り 国際会議
2017年9月11日

Secondary ion yields produced by vacuum-type electrospray droplet ion beams

21th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXI)
  • Satoshi Ninomiya
  • ,
  • Lee Chuin Chen
  • ,
  • Kenzo Hiraoka

開催年月日
2017年9月10日 - 2017年9月15日
記述言語
英語
会議種別
口頭発表(招待・特別)
主催者
Chair: Zbigniew Postawa
開催地
Auditorium Maximun of the Jagiellonian University, Kraków
国・地域
ポーランド

リンク情報
共同研究・競争的資金等の研究課題
真空型エレクトロスプレー液滴イオンビームによる二次イオン質量分析の高性能化