2015年3月17日
電子顕微鏡観察・小角X線散乱測定両手法によるソフトフォトニック結晶薄膜のナノ構造評価
第3回物構研サイエンスフェスタ
- 開催年月日
- 2015年3月17日 - 2015年3月18日
- 記述言語
- 日本語
- 会議種別
- 口頭発表（招待・特別）
- 開催地
- つくば（つくば国際会議場）
- 国・地域
- 日本
野呂 篤史
ノロ アツシ (Atsushi Noro)
更新日: 02/01