2020年7月28日
Stress Test of Cascode Switch Using SiC Static Induction Transistor
Materials Science Forum
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- 巻
- 1004
- 号
- 開始ページ
- 985
- 終了ページ
- -991
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）
- DOI
- 10.4028/www.scientific.net/MSF.1004.985
- 出版者・発行元
- Trans Tech Publication
- ID情報
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- DOI : 10.4028/www.scientific.net/MSF.1004.985