MISC

2015年8月

Scanning Probe Microscopy FOREWORD

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
  • Masami Kageshima
    • ,
  • Ken-ichi Fukui
    • ,
  • Tadahiro Komeda
    • ,
  • Ken Nakajima
    • ,
  • Tomonobu Nakayama
    • ,
  • Koji Sumitomo
    • ,
  • Takuji Takahashi
    • ,
  • Takayuki Uchihashi
巻
54
号
8
記述言語
英語
掲載種別
その他
DOI
10.7567/JJAP.54.08L001
出版者・発行元
IOP PUBLISHING LTD
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.7567/JJAP.54.08L001
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000358663300001&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.7567/JJAP.54.08L001
  • ISSN : 0021-4922
  • eISSN : 1347-4065
  • Web of Science ID : WOS:000358663300001
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