特許権 検査方法、センサ ウシオ電機株式会社, 国立大学法人京都大学, 京都府公立大学法人 川▲崎▼ 三津夫, 高松 哲郎, 原田 義規, 南川 丈夫, 竹田 昂司, 山崎 祐, 川▲崎▼ 昌博 出願番号 特願2013-106652 出願日 2013年5月20日 公開番号 特開2014-228323 公開日 2014年12月8日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201403006061263563URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201403006061263563 ID情報 J-Global ID : 201403006061263563
