MISC

査読有り
2019年6月

Atom probe tomography of GaAs homointerfaces fabricated by surface-activated bonding

Proceedings of the 6th International IEEE Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration
  • Y. Shimizu
    • ,
  • N. Ebisawa
    • ,
  • Y. Ohno
    • ,
  • J. Liang
    • ,
  • N. Shigekawa
    • ,
  • K. Inoue
    • ,
  • Y. Nagai
開始ページ
56
終了ページ
56
記述言語
英語
掲載種別
記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）
リンク情報
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000492018300056&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • Web of Science ID : WOS:000492018300056
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