今井康彦 (YASUHIKO IMAI) - マイポータル

基本情報

所属: 公益財団法人高輝度光科学研究センター放射光利用研究基盤センター主幹研究員 (チームリーダー)

研究者番号: 30416375
ORCID ID: https://orcid.org/0000-0003-4686-2629
J-GLOBAL ID: 202201011653246075
researchmap会員ID: R000038106

論文

Quantifying bunch-mode influence on photon-counting detectors at SPring-8

Yasuhiko Imai, Takaki Hatsui

Journal of Synchrotron Radiation 2024年3月1日筆頭著者責任著者
Position and electric field dependent local lattice strain detected by nanobeam x-ray diffraction on a relaxor ferroelectric single crystal

Shinobu Aoyagi, Ayumi Aoyagi, Hiroaki Takeda, Hitoshi Osawa, Kazushi Sumitani, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura

Physical Review B 2022年1月3日
Electric-Field-Driven Nanosecond Ferroelastic-Domain Switching Dynamics in Epitaxial Pb ( Zr , Ti ) O 3 Film

Hyeon Jun Lee, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuhiko Imai, Osami Sakata, Seung Hyun Hwang, Tae Yeon Kim, Changjae Yoon, Cheng Dai, Long Q. Chen …

Physical Review Letters 123(21) 2019年11月18日
Ferroelastic domain motion by pulsed electric field in (111)/(111¯) rhombohedral epitaxial Pb(Zr0.65Ti0.35)O3 thin films: Fast switching and relaxation

Yoshitaka Ehara, Takao Shimizu, Shintaro Yasui, Takahiro Oikawa, Takahisa Shiraishi, Hiroki Tanaka, Noriyuki Kanenko, Ronald Maran, Tomoaki Yamada, Yasuhiko Imai …

Physical Review B 100(10) 2019年9月30日
Quantitative analysis of lattice plane microstructure in the growth direction of a modified Na-flux GaN crystal using nanobeam X-ray diffraction

Kazuki Shida, Nozomi Yamamoto, Tetsuya Tohei, Masayuki Imanishi, Yusuke Mori, Kazushi Sumitani, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura, Akira Sakai

Japanese Journal of Applied Physics 58({SC}) 2019年5月
Current status of nanobeam x-ray diffraction station at SPring-8

Yasuhiko Imai, Kazushi Sumitani, Shigeru Kimura

AIP Conference Proceedings 2019年筆頭著者責任著者
Depth-resolved analysis of lattice distortions in high-Ge-content SiGe/compositionally graded SiGe films using nanobeam x-ray diffraction

Kazuki Shida, Shotaro Takeuchi, Tetsuya Tohei, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura, Andreas Schulze, Matty Caymax, Akira Sakai

Semiconductor Science and Technology 33(12) 124005-124005 2018年10月25日
Development of compound refractive lenses made of quartz glass designed for microdiffraction system at BL13XU in SPring-8

K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura

Journal of Instrumentation 13(09) C09002-C09002 2018年9月27日
Compound Refractive Lens Optics for Microbeam X-ray Diffraction Measurements at BL13XU in SPring-8

Kazushi Sumitani, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura

Microscopy and Microanalysis 24(S2) 306-309 2018年8月10日
Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O₃ film

Tomoya Sato, Daichi Ichinose, Naoya Oshima, Takanori Mimura, Yuichi Nemoto, Takao Shimizu, Yasuhiko Imai, Hiroshi Uchida, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo

Japanese Journal of Applied Physics 57(9) 0902B8-0902B8 2018年6月27日
Domain Switching by Applied Electric Field in (001) and (111)-epitaxial (K0.5Na0.5)NbO3Films

M. Kawano, T. Yamada, S. Matsuo, M. Yoshino, T. Nagasaki, O. Sakata, Y. Imai

2018 IEEE ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference (IFAAP) 2018年5月
Microstructural analysis in the depth direction of a heteroepitaxial AlN thick film grown on a trench-patterned template by nanobeam X-ray diffraction

K. Shida, S. Takeuchi, T. Tohei, H. Miyake, K. Hiramatsu, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, A. Sakai

Journal of Applied Physics 123(16) 2018年1月10日
Effect of the film thickness on the crystal structure and ferroelectric properties of (Hf0.5Zr0.5)O2 thin films deposited on various substrates

Takahisa Shiraishi, Kiliha Katayama, Tatsuhiko Yokouchi, Takao Shimizu, Takahiro Oikawa, Osami Sakata, Hiroshi Uchida, Yasuhiko Imai, Takanori Kiguchi, Toyohiko J. Konno …

Materials Science in Semiconductor Processing 70 239-245 2017年11月
Quantification of local strain distributions in nanoscale strained SiGe FinFET structures

Shogo Mochizuki, Conal E. Murray, Anita Madan, Teresa Pinto, Yun-Yu Wang, Juntao Li, Weihao Weng, Hemanth Jagannathan, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura …

Journal of Applied Physics 122(13) 2017年10月5日
Control of dislocation morphology and lattice distortion in Na-flux GaN crystals

S. Takeuchi, Y. Mizuta, M. Imanishi, M. Imade, Y. Mori, K. Sumitani, Y. Imai, S. Kimura, A. Sakai

Journal of Applied Physics 122(10) 2017年9月14日
In-situ observation of ultrafast 90° domain switching under application of an electric field in (100)/(001)-oriented tetragonal epitaxial Pb(Zr0.4Ti0.6)O3 thin films

Yoshitaka Ehara, Shintaro Yasui, Takahiro Oikawa, Takahisa Shiraishi, Takao Shimizu, Hiroki Tanaka, Noriyuki Kanenko, Ronald Maran, Tomoaki Yamada, Yasuhiko Imai …

Scientific Reports 7(1) 2017年8月29日
Electric-field-induced lattice distortion in epitaxial BiFeO3 thin films as determined by in situ time-resolved x-ray diffraction

Seiji Nakashima, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo, Takao Shimizu, Daichi Ichinose, Kota Takayama, Yasuhiko Imai, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu

Applied Physics Letters 111(8) 2017年8月21日
Extended Polymorphism of Two-Dimensional Material

Masaro Yoshida, Jianting Ye, Yijin Zhang, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura, Akihiko Fujiwara, Terukazu Nishizaki, Norio Kobayashi, Masaki Nakano, Yoshihiro Iwasa

Nano Letters 17(9) 5567-5571 2017年8月11日
Tomographic Mapping Analysis in the Depth Direction of High-Ge-Content SiGe Layers with Compositionally Graded Buffers Using Nanobeam X-ray Diffraction

Kazuki Shida, Shotaro Takeuchi, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura, Andreas Schulze, Matty Caymax, Akira Sakai

ACS Applied Materials & Interfaces 9(15) 13726-13732 2017年4月10日
Domain Size of Phase-Separated NaxCoO2 as Investigated by X-Ray Microdiffraction

Hideharu Niwa, Takayuki Shibata, Yasuhiko Imai, Shigeru Kimura, Yutaka Moritomo

Batteries 3(4) 5-5 2017年3月2日

もっとみる

共同研究・競争的資金等の研究課題

ナノビームX線回折による半導体デバイスの4次元断層解析

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2023年4月 - 2026年3月

林侑介, 今井康彦
結晶特異構造およびその挙動のマルチスケール構造解析評価

日本学術振興会科学研究費助成事業新学術領域研究(研究領域提案型) 2016年6月 - 2021年3月

酒井朗, 今井康彦
異常散乱放射光マイクロ回折による混晶薄膜局所領域組成および歪みの独立決定法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2016年4月 - 2019年3月

木村滋, 今井康彦
ナノスケールX線回折マッピング法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月

今井康彦, 隅谷和嗣, 木村滋
石英製屈折レンズを用いる放射光マイクロ回折によるInGaN層のピンポイント評価

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究 2013年4月 - 2015年3月

木村滋, 今井康彦, 横川俊哉
物質科学のための放射光核共鳴散乱法の研究

科学技術振興機構戦略的な研究開発の推進戦略的創造研究推進事業 CREST 2005年 - 2010年

瀬戸誠
放射光X線マイクロプローブによるナノデバイス材料・界面の物性評価

日本学術振興会科学研究費助成事業特定領域研究 2006年 - 2009年

木村滋, 坂田修身, 田尻寛男, 今井康彦
偏光X線多波回折法による結晶構造解析技術の開発と応用

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2006年 - 2007年

沖津康平, 今井康彦, 依田芳卓, 上エ地義徳
Ag(001)単結晶表面上の2次元Ag-Na合金のX線精密構造物性

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2002年 - 2003年

坂田修身, 北野彰子, 高田昌樹, 今井康彦