MISC

2018年

Industry 4.0を担う実践技術と将来を見据えた先端基礎技術 FBGによる多点同時計測可能な光ファイバAEセンサ

非破壊検査
  • 麻植久史
    • ,
  • 塩谷智基
    • ,
  • 山本伊織
    • ,
  • 稲葉秀弘
巻
67
号
6
リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201802290851670639
ID情報
  • ISSN : 0367-5866
  • J-Global ID : 201802290851670639
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