2020年
Visualization of Different Carrier Concentrations in n-Type GaN Semiconductors by Phase-Shifting Electron Holography with Multiple Electron Biprisms
Microscopy
- 巻
- 69
- 号
- 1
- 開始ページ
- 1
- 終了ページ
- 10
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文(学術雑誌)
- DOI
- 10.1093/jmicro/dfz037
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1093/jmicro/dfz037
- ISSN : 2050-5698
- eISSN : 2050-5701
- Web of Science ID : WOS:000538714900001