講演・口頭発表等

国際会議
2018年11月18日

Chemical nano-analysis at Si grain boundaries by atom probe tomography combined with STEM and ab-initio calculations

The 8th Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2018
  • Y. Ohno
    • ,
  • K. Kutsukake
    • ,
  • I. Yonenaga
    • ,
  • N. Ebisawa
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  • Y. Shimizu
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  • K. Inoue
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  • Y. Nagai
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  • H. Yoshida
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  • S. Takeda
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  • T. Yokoi
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  • A. Nakamura
    • ,
  • K. Matsunaga
記述言語
英語
会議種別
口頭発表（一般）
開催地
岡山大学
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