特許権 光子誘起による陽電子消滅γ線分光及び短寿命原子核準位の測定法 日本原子力研究所, 独立行政法人産業技術総合研究所 平出 哲也, 豊川 弘之, 鈴木 良一, 大平 俊行, 大垣 英明 出願番号 特願2002-313878 出願日 2002年10月29日 公開番号 特開2004-150851 公開日 2004年5月27日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903090526471142 ID情報 J-Global ID : 200903090526471142