黒河明 (Akira KUROKAWA) - マイポータル

基本情報

J-GLOBAL ID: 200901096639282304
researchmap会員ID: 0000045343

外部リンク: http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=A24554416

論文

Sequential ISS-AES measurement with scanning auger microprobe

Ryuichi Shimizu, Akira Kurokawa

Surface Science 176(3) 653-656 1986年11月1日査読有り
QUANTITATIVE SURFACE CHEMICAL-ANALYSIS OF AU-CU ALLOYS WITH AES

K YOSHIHARA, R SHIMIZU, T HOMMA, H TOKUTAKA, K GOTO, M UEMURA, D FUJITA, A KUROKAWA, S ICHIMURA, C OSHIMA …

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 12(1-12) 125-130 1988年7月査読有り
Surface composition analyses of Co–Ni alloys under Ar+ ion bombardment by AES and ISS: A possible standard sample for surface chemical analysis

A. Kurokawa, R. Shimizu, Y. Kubota, H. J. Kang

Surface and Interface Analysis 14(6-7) 388-392 1989年査読有り
In-depth surface composition of Al-Mg alloy under ion bombardment

Akira Kurokawa, Ryuichi Shimizu

Surface Science 207(2-3) 460-472 1989年1月1日査読有り
Surface composition of CoNi alloys under Ar+ ion bombardment

A. Kurokawa, M. Tezuka, K. Takegoshi, M. Kudo, R. Shimizu

Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 39(1-4) 57-59 1989年3月2日査読有り
Evaluation of correction accuracy of several schemes for AES matrix effect corrections

S. Tanuma, T. Sekine, K. Yoshihara, R. Shimizu, T. Homma, H. Tokutaka, K. Goto, M. Uemura, D. Fujita, A. Kurokawa …

Surface and Interface Analysis 15(8) 466-472 1990年査読有り
THE RELIABILITY OF QUANTITATIVE-ANALYSIS WITH AES

K YOSHIHARA, R SHIMIZU, T HOMMA, H TOKUTAKA, K GOTO, D FUJITA, A KUROKAWA, S ICHIMURA, M KURAHASHI, M KUDO …

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 16(1-12) 140-143 1990年7月査読有り
Construction of retarding field cylindrical mirror analyzer

Makoto Sohma, Akira Kurokawa, Ryuichi Shimizu, Yuji Sakai

Japanese Journal of Applied Physics 30(10R) 2636-2640 1991年査読有り
Computer simulation of the surface composition change of a Cu-Ni alloy under ion bombardment at different sample temperatures

Kurokawa Akira, Hee Jae Kang, Shimizu Ryuichi

Surface Science 255(1-2) 120-126 1991年9月1日査読有り
The effect of cooling on the development of composition profiles in Cu–Pt alloys under Ar+ ion bombardment

Chunfei Li, Akira Kurokawa, Tatsuya Asahata, Ryuichi Shimizu

Surface and Interface Analysis 21(1) 56-60 1994年査読有り
Instrument for Creating Surface Layer Structure and for in-situ Layer Observation with Surface Electron Spectroscopic Tomography

Akira Kurokawa, Shingo Ichimura, Jae Jeong, Jae Jeong, Joseph Toth, Kazuhiro Yoshihara, Yoshio Saitoh, Yoshihiro Satoh

Shinku 38(3) 179-182 1995年1月1日
Application of STM Nanometer-Size Oxidation Process to Planar-Type MIM Diode

Matsumoto Kazuhiko, Takahashi Shu, Ishii Masami, Hoshi Masakatsu, Kurokawa Akira, Ichimura Shingo, Ando Atsushi

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes 34(2) 1387-1390 1995年2月28日
Pressure measurement of 10^-10to 10^-12Pa by nonresonant multiphoton ionization

K. Kokubun, S. Sekine, S. Ichimura, A. Kurokawa, H. Shimizu

Vacuum 47 557-559 1996年1月1日
Simultaneous measurement of total and partial pressure and ionization volume by laser ionization method

S. Sekine, A. Iwasaki, A. Kurokawa, S. Ichimura, K. Kokubun, H. Shimizu

Vacuum 47 553-555 1996年1月1日
Low temperature oxidation processing with high purity ozone

A Kurokawa, S Ichimura, HJ Kang, DW Moon

RAPID THERMAL AND INTEGRATED PROCESSING V 429 269-274 1996年査読有り
High purity ozone oxidation on hydrogen passivated silicon surface

A Kurokawa, S Ichimura

APPLIED SURFACE SCIENCE 100 436-439 1996年7月査読有り
Analysis by surface-sensitive second harmonic generation of Si(111)7x7 exposed to high-purity ozone jet for oxide film formation

Nakamura K, Kurokawa A, Ichimura S

Surface and Interface Analysis 25(2) 88-93 1997年査読有り
Comparison of initial oxidation of Si(111)7x7 with ozone and oxygen investigated by second harmonic generation

Nakamura K, Kurokawa A, Ichimura S

Journal of Vacuum Science & Technology a-Vacuum Surfaces and Films 15(4) 2441-2445 1997年査読有り
Observation of Si surface with instrument for electron spectroscopic tomography

Akira Kurokawa, Shingo Ichimura

Shinku/Journal of the Vacuum Society of Japan 40(3) 177-179 1997年査読有り
Improvement in the ion-detection sensitivity of the pressure measurement method using nonresonant laser ionization

K. Kokubun, S. Ichimura, M. Hirata, S. Sekine, A. Kurokawa

Vacuum 48 727-729 1997年9月1日

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MISC

ナノ材料適正管理のための複合計測システムの開発

一村信吾, 加藤晴久, 堀池重吉, 杉沢寿志, 黒河明, 熊谷和博, 白川部喜春, 重藤知夫, 山口哲司, 高橋かより …

ぶんせき 2020(10) 366-373 2020年10月
ナノ粒子のサイズ分布計測のための電子顕微鏡用調製試料の品質

黒河明, 熊谷和博

応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 67th 2020年
SEM/TEMによるナノ粒子粒径分布計測高度化のための試料調製法

黒河明, 熊谷和博, 赤井諭, 飯田信雄, 佐々木義和, 菊池真樹, 北村真一, 眞部弘宣

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 79th 2018年
液中分散ナノ材料用のTEM/SEM試料自動作製装置の開発

赤井諭, 熊谷和博, 飯田信雄, 黒河明, 佐々木義和, 菊池真樹, 北村真一, 眞部弘宣

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 79th 2018年
²⁸Si同位体濃縮結晶を用いた新たなキログラムの定義の実現

倉本直樹, 張ルウルウ, 水島茂喜, 藤田一慧, 東康史, 黒河明, 藤井賢一

センシングフォーラム資料 33 294-299 2016年9月1日
Diagnosis and cleaning of carbon contamination on SiO2 thin film (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))

Kurokawa Akira, Odaka Kenji, Azuma Yasushi

Journal of surface analysis 15(3) 337-340 2009年3月
Secondary ion mass spectrometry of organic thin films using metal-cluster-complex ion source

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Hidehiko Nonaka, Naoaki Saito, Hiroshi Itoh, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura, Mitsuhiro Tomita

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS 45(33-36) L987-L990 2006年9月
Ion-beam characteristics of the metal cluster complex of Ir-4(CO)(12)

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Yoshikazu Teranishi, Hidehiko Nonaka, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura, Mitsuhiro Tomita

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 100(4) 043305- 2006年8月
Depth resolution improvement in secondary ion mass spectrometry analysis using metal cluster complex ion bombardment

M. Tomita, T. Kinno, M. Koike, H. Tanaka, S. Takeno, Y. Fujiwara, K. Kondou, Y. Teranishi, H. Nonaka, T. Fujimoto …

APPLIED PHYSICS LETTERS 89(5) 053123- 2006年7月
Production of stable ion beam of Os-3(CO)(12) with compact metal-cluster-complex ion source

Yukio Fujiwara, Kouji Kondou, Yoshikazu Teranishi, Hidehiko Nonaka, Toshiyuki Fujimoto, Akira Kurokawa, Shingo Ichimura

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS 45(7) 6000-6007 2006年7月
Fragmentation analysis by superconducting ion detectors in matrix-assisted laser desorption/ionization (MALDI)

M Ohkubo, Y Shigeri, T Kinumi, N Saito, M Ukibe, YE Chen, A Kushino, A Kurokawa, H Sato, S Ichimura

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT 559(2) 779-781 2006年4月
A possible hydrogen sensing method with dual pressure gauges

A Suzuki, A Kurokawa, H Nonaka, S Ichimura

SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL 127(1) 37-40 2006年2月
Synthesis of silicon dioxide film using high-concentration ozone and evaluation of the film quality

K Koike, K Izumi, S Nakamura, G Inoue, A Kurokawa, S Ichimura

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS 34(3) 240-247 2005年3月
Application of metal cluster complex ion beam for low damage sputtering

T Fujimoto, T Mizota, H Nonaka, A Kurokawa, S Ichimura

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 37(2) 164-166 2005年2月
金属クラスター錯体を用いたクラスターイオン銃の開発

藤本俊幸, 溝田武志, 野中秀彦

ＪＯＵＲＮＡＬＯＦＳＵＲＦＡＣＥＡＮＡＬＹＳＩＳ 12(1) 2-8 2005年
２種類の圧力測定素子を用いた水素漏洩検知

鈴木淳, 黒河明, 野中秀彦, 一村信吾

真空 48(7) 448-450 2005年
超伝導検出器を搭載した飛行時間質量分析器の開発

齋藤直昭, 大久保雅隆, 浮辺雅宏, 久志野彰寛, 黒河明, 溝田武志, 絹見朋也, 茂里康, 一村信吾

真空 48(3) 211-213 2005年
二成分濃度測定法における温度・湿度の影響

鈴木淳, 黒河明, 野中秀彦, 一村信吾

真空 48(3) 139-141 2005年
Development of compact cluster ion sources using metal cluster complexes - Ionization properties of metal cluster complexes

T Mizota, H Nonaka, T Fujimoto, A Kurokawa, S Ichimura

APPLIED SURFACE SCIENCE 231 945-948 2004年6月
2種類の圧力計による大気圧O₂/O₃混合ガスのO₃濃度計測

黒河明, 塚原園子, 小林太吉, 北条久男, 一村信吾

真空 47(3) 151-154 2004年3月20日

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共同研究・競争的資金等の研究課題

振動子による二種混合気体の粘性計測

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2010年 - 2012年

黒河明, 北條久男, 小林太吉
新しく開発したオージェ・イオン散乱連続分光法による表面変質層形成過程の解明

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(特別研究員) 奨励研究(特別研究員) 1990年 - 1990年

黒河明

産業財産権

特開2018-116025 試料作製装置

赤井諭, 守岡歩, 飯田信雄, 黒河明, 熊谷和博
特許第6179934号オゾン含有ガス中のNOxガス検出方法およびその装置

古谷政博, 西村宏, 中村貞紀, 井上吾一, 小池国彦, 黒河明
特開2015-141083 顕微鏡用試料担持片の作製方法およびその装置

黒河明, 熊谷和博, 藤本俊幸
特許第5769167号気体の分子量測定装置

黒河明
特許第5711552号エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置

後藤敬典, 山内幸彦, 黒河明, 田沼繁夫
特許第5648204号オゾンガスの送給系での安全装置

小池国彦, 泉浩一, 黒河明
特開2014-163720 オゾン含有ガス中のNOxガス検出方法およびその装置

古谷政博, 西村宏, 中村貞紀, 井上吾一, 小池国彦, 黒河明
特開2013-180931 オゾンガスに含まれる窒素酸化物除去用吸着剤の前処理方法と窒素酸化物除去用吸着剤および前処理装置。

古谷政博, 中村貞紀, 井上吾一, 小池国彦, 黒河明
特許第5267980号オゾンガス利用表面処理方法とその装置

小池国彦, 泉浩一, 黒河明
特開2013-015362 気体の分子量測定装置

黒河明
特開2012-160261 エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置

後藤敬典, 山内幸彦, 黒河明, 田沼繁夫
特許第5062731号精密薄膜分析装置

黒河明, 尾高憲二, 藤本俊幸, 東康史
特開2011-044586 表面温度測定方法

黒河明, 尾高憲二, 小林慶規, 伊藤賢志
特許第4621848号酸化薄膜の作成方法

泉浩一, 小池国彦, 黒河明, 尾高憲二, 一村信吾
特許第4538589号分子ビーム装置

藤本俊幸, 一村信吾, 野中秀彦, 黒河明
特許第4534020号分子ビーム装置

藤本俊幸, 一村信吾, 野中秀彦, 黒河明
特開2010-010283 オゾンガス利用表面処理方法とその装置

小池国彦, 泉浩一, 黒河明
特許第4324663号シャワーヘッド及びシャワーヘッドを用いた半導体熱処理装置

黒河明, 一村信吾
特許第4285885号オゾン生成装置

一村信吾, 野中秀彦, 黒河明, 村上寛, 西口哲也, 宮本正春, 森川良樹, 大石和城, 花倉満
特許第4266850号 2成分混合気体の濃度測定装置

黒河明, 一村信吾, 北條久男, 小林太吉

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