橋口住久 (Sumihisa Hashiguchi) - マイポータル

基本情報

学位: 工学博士(東京大学)
工学修士(東京大学)

J-GLOBAL ID: 200901033745398557
researchmap会員ID: 1000021053

研究キーワード

研究分野

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 計測工学 /

経歴

1971年 - 1988年

山梨大学助教授
1971年 - 1988年

Yamanashi University, Associate Professor
1988年

- 山梨大学教授
1988年

- Yamanashi University, Professor
1971年

山梨大学講師
1971年

Yamanashi University, Lecturer
山梨大学大学院医学工学総合研究部情報システム工学系電気電子システム工学専攻/情報機能システム工学専攻, 教授

学歴

委員歴

2000年

日本心電学会, 評議員
1994年 - 1995年

日本ME学会, 評議員

MISC

Cross-correlation measurements in searching for a trace of the gate voltage noise

Proc. of SPIE 5470, 529-537 2004年
Dependence of Hooge constant on mean free paths of materials

Proc. Of SPIE 5469, 310-319 2004年
RTS in submicron MOSFETs and quantum dots

J Sikula, J Pavelka, Sedlakova, V, M Tacano, S Hashiguchi, M Toita

NOISE AND INFORMATION IN NANOELECTRONICS, SENSORS, AND STANDARDS II 5472 64-73 2004年
LF-Band noise in MOSFET in low power operation

Proc. of SPIE 5470, 538-545 2004年
Cross-correlation measurements in searching for a trace of the gate voltage noise

Proc. of SPIE 5470, 529-537 2004年
Dependence of Hooge constant on mean free paths of materials

Proc. Of SPIE 5469, 310-319 2004年
RTS in submicron MOSFETs and quantum dots

J Sikula, J Pavelka, Sedlakova, V, M Tacano, S Hashiguchi, M Toita

NOISE AND INFORMATION IN NANOELECTRONICS, SENSORS, AND STANDARDS II 5472 64-73 2004年
LF-Band noise in MOSFET in low power operation

Proc. of SPIE 5470, 538-545 2004年
Evaluation of Al/Ti/n-GaN contacts by current noise measurements

N Tanuma, H Tanizaki, S Yokokura, S Hashiguchi, J Sikula, T Matsui, M Tacano

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 42(5A) 2569-2572 2003年5月
Evaluation of Al/Ti/n-GaN contacts by current noise measurements

N Tanuma, H Tanizaki, S Yokokura, S Hashiguchi, J Sikula, T Matsui, M Tacano

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 42(5A) 2569-2572 2003年5月
Noise and transport characterization of tantalum capacitors

Microelectronics Reliability 41, 42841-847 2002年
Low frequency noise of tantalum capacitors

J. Sikula, J. Hlavka, J. Pavelka, V. Sedlakova, L. Grmela, M. Tacano, S. Hashiguchi

Active and Passive Electronic Components 25(2) 161-167 2002年
Active Suppression of Interfereing magnetic Field

Proc. ICBME2002 220-221 2002年
An indicator of AC magnetic field vector

Proc. ICBME2002 218-219 2002年
Noise and transport characterization of tantalum capacitors

Microelectronics Reliability 41, 42841-847 2002年
Low frequency noise of tantalum capacitors

J. Sikula, J. Hlavka, J. Pavelka, V. Sedlakova, L. Grmela, M. Tacano, S. Hashiguchi

Active and Passive Electronic Components 25(2) 161-167 2002年
Active Suppression of Interfereing magnetic Field

Proc. ICBME2002 220-221 2002年
An indicator of AC magnetic field vector

Proc. ICBME2002 218-219 2002年
Electron Cyclotron Resonance Plasma Etching of n-SiC and Evaluation of Ni/n-SiC Contacts

JJAP 40,3979-3984 2001年
Evaluation of NI/N-SIC Ohmic contacts by Current Noise

Measurements Noise in Physical systems and 1/f Noise 119-122 2001年

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書籍等出版物

Some considerations for the construction of low-noise amplifies in very low frequency region

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry 2004年
RTS in quantum dots: experimental set-up with long-timestability and magnetic fields compensation

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry, 2004年
New tools for fast and sensitive noise measurements

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry, 2004年
Some considerations for the construction of low-noise amplifies in very low frequency region

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry 2004年
RTS in quantum dots: experimental set-up with long-timestability and magnetic fields compensation

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry, 2004年
New tools for fast and sensitive noise measurements

Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices(J.Sikula, M.Levinstein,Eds.),NATO Research Series II. Mathematics, Physics, and Chemistry, 2004年
Transport Properties and hooge Parameter of N-GaN

Noise and Fluctuations 2003年
Transport Properties and hooge Parameter of N-GaN

Noise and Fluctuations 2003年

所属学協会

Works(作品等)

LF帯低ノイズ増幅器

2003年
Low noise amplifier for LF band

2003年
スキャナー画像の読み込み誤り訂正

2001年
Correction of read errors in scanned images

2001年
高周波半導体素子の開発

1998年
Development of semiconductor devices for high frequency applications

1998年

共同研究・競争的資金等の研究課題

低ノイズ電子回路

共同研究 2002年 - 2006年
工業用画像処理

その他の研究制度 2001年 - 2006年
半導体素子の1/fノイズ

その他の研究制度 1998年 - 2006年
Low-noise electronic circuits

2002年
Image processing

2001年
1/f noise in Semiconductor Devices

1998年

産業財産権

視線方向検出装置