2021年5月12日
Detectable Resistance Increase of Open Defects in Assembled PCBs by Quiescent Currents through Embedded Diodes
2021 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)
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- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）
- DOI
- 10.23919/icep51988.2021.9451913
- 出版者・発行元
- IEEE
- リンク情報
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- DOI
- https://doi.org/10.23919/icep51988.2021.9451913
- URL
- http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9451900/9451855/09451913.pdf?arnumber=9451913
- Scopus
- https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85113333845&origin=inward
- Scopus Citedby
- https://www.scopus.com/inward/citedby.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85113333845&origin=inward
- ID情報
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- DOI : 10.23919/icep51988.2021.9451913
- SCOPUS ID : 85113333845