論文

査読有り
2016年2月12日

Local gate leakage current induced by inhomogeneous epitaxial growth in AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors

Applied Physics Express
  • Tomotaka Narita
  • ,
  • Akio Wakejima
  • ,
  • Takashi Egawa

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031002
終了ページ
記述言語
英語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)

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