講演・口頭発表等

国際会議
2018年9月12日

High-Read-Margin MTJ-Based Fracturable Lookup Table Circuit Using a Series-NMOS-Resistance-Reduced Logic-in-Memory Structure

2018 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2018)
  • High-Read-Margin MTJ-Based Fracturable Lookup
    • ,
  • Table Circuit
    • ,
  • Using a
    • ,
  • Series-NMOS-Resistance-Reduced Logic-in-Memory Structure
記述言語
英語
会議種別
口頭発表（一般）
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