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2013年8月

Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials

Journal of Materials

Yoshikazu Fujii

巻: Article ID 678361
号: 2013
開始ページ: 1
終了ページ: 20
記述言語: 英語
掲載種別: 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）
DOI: 10.1155/2013/678361
出版者・発行元: Hindawi Publishing Corporation

Article ID 678361

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1155/2013/678361
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/120005348218
URL: http://www.lib.kobe-u.ac.jp/handle_kernel/90001881

ID情報

DOI : 10.1155/2013/678361
ISSN : 2314-4866
CiNii Articles ID : 120005348218

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