走査型透過電子顕微鏡によるナノ位相トモグラフィー実現を目指し、長焦点深度の振幅・位相像分離再生手法を提案している。これに必要な4技術要素である、磁場界浸型電界放出電子銃、小型収差補正システム、円環状対物絞りと円環状アレイ型検出器の研究・開発を行い、試作走査型透過電子顕微鏡を用いてこの新結像手法を評価した。